Overordnede kursusmål
Indførelse i testproblematikken for integrerede kredsløb, der
sætter deltagerne i stand til at designe integrerede kredsløb af
høj testmæssig kvalitet.
Læringsmål
En studerende, der fuldt ud har opfyldt kursets mål, vil kunne:
- Beskrive og forklare grundlæggende metoder og begreber inden
for test og design for test af integrerede kredsløb (f.eks.
stuck-at fejl, D-algoritme, indbygget selvtest).
- Redegøre for, hvad det vil sige, at et kredsløb er testbart og
analysere, hvorvidt et digitalt kredsløb eller dele heraf er
testbart.
- Analysere mindre dele af et testbart digitalt kredsløb, der
benytter gængse metoder for test og design for test.
- Udvælge og optimere de testressourcer, det er hensigtsmæssigt
at benytte i en given situation.
- Givet et digitalt kredsløb, redegøre for kredsløbets
testbarhedsegenskaber (f.eks. overhead, kompleksitet) samt foreslå
og sammenligne forskellige muligheder for at forbedre disse
egenskaber.
- Undersøge en faglig problemstilling [på baggrund af et oplæg]
og fremlægge resultatet af undersøgelsen på en klar og koncis måde
i form af en standardiseret teknisk rapport.
- Beskrive forskellige løsningsmetoder til en udvalgt teknisk
problemstilling og bedømme fordele og ulemper ved metoderne som
løsninger på problemstillingen.
- Konstruktivt kritisere en skriftlig fremstilling [over en
faglig problemstilling], supplere eventuelle mangelfulde dele i
rapporten, og konkludere på fremstillingens helhed.
- Diskutere fremlagte metoder [i tekniske artikler] og relatere
disse til tilsvarende resultater under angivelse af ligheder og
forskelle.
Kursusindhold
Kurset gennemgår den grundlæggende teori for test af elektroniske
kredsløb specielt med henblik på design af digitale, integrerede
kredsløb med gode testegenskaber.
Kurset omhandler områderne:
1) fysiske fejlmekanismer og logiske fejlmodeller,
2) testbarhedsanalyse (kontrollerbarhed og observerbarhed),
3) algoritmer til test mønster generering,
4) fejlsimulering (fejldækning),
5) design for test,
6) boundary scan teknikker,
7) testplanlægning i designfasen,
8) testsystemer.
Sidst opdateret
04. maj, 2026
