Overordnede kursusmål
Kursets formål er at give de studerende en basal teoretisk
forståelse for principperne bag elektronmikroskopi, især med hensyn
til analyse af krystallinske materialer. Det vil derfor være
essentielt at have kendskab til krystallografi og krystaldefekter
fra tidligere. Dette kursus vil gøre de studerende i stand til at
forstå og fortolke elektronmikroskopibilleder, diffraktionsmønstre
og energy dispersive spektroskopi data fra både skannings- og
transmissionselektronmikroskoper. Prøvetyper vil indbefatte
metaller og legeringer.
Kurset anbefales til PhD studerende. Der benyttes aktiv indlæring.
Læringsmål
En studerende, der fuldt ud har opfyldt kursets mål, vil kunne:
- Genkende nøglekomponenterne i elektronmikroskoper
- Beskrive vekselvirkningen mellem elektroner og fast stof og
kende forskel på elastiske og ikke-elastiske vekselvirkninger
- Beskrive typer af elektronsignaler fra disse vekselvirkninger
og principperne for detektion af forskellige signaler
- Fortolke energy dispersive spektroskopi (EDS) data
- Fortolke variationer i kontrast og intensitet i
mikrostrukturbilleder taget med skanningelektronmikroskopi (SEM) og
transmissionselektronmikroskopi (TEM)
- Analysere elektrondiffraktionseffekter og -mønstre fra både SEM
og TEM
- Evaluere relevansen af tilgængelige elektronmikroskopiteknikker
for et valgt projekt
- Formulere strategier for prøvepræparation, observation og
analyse mhp et specifikt projekt
Kursusindhold
Dette kursus introducerer elektronmikroskopi som en metode til
karakterisering af mikrostruktur, krystallografiske orienteringer
og lokal kemi i metaller og legeringer. De studerende vil lære
grundprincipperne bag transmissions- og
skanningelektronmikroskoper, og hvordan billeder,
diffraktionsmønstre og energy dispersive spektroskopi data optages
og fortolkes. Desuden vil hver studerende blive involveret i
praktisk brug af mindst en af elektronmikroskopiteknikkerne. Dette
vil involvere diskussion og vejledning fra en DTU ansat.
Emner inkluderer:
• Nøglekomponenter i elektronmikroskoper
• Vekselvirkning mellem elektroner og fast stof
• Elektrondetektion for forskellige signaler og billeddannelse i
TEM and SEM
• Forskellige typer af TEM kontrast (diffraktions-, masse-tykkelse-
og fasekontrast)
• Billeddannende TEM teknikker (bright-field, dark-field,
højopløsning)
• Spektroskopiske metoder
• Diffraktionsmønstre i TEM og SEM (EBSD)
• Prøvepræparation til TEM og SEM
Sidst opdateret
04. maj, 2023