At sætte den ph.d. studerende i stand til at forstå mulighederne og begrænsningerne af røntgendiffraktion til at karakterisere materialernes mikrostruktur (faseanalyse, teksturanalyse, spændingsanalyse og linjeprofilanalyse) og anvende den teoretiske viden på konkrete problemstillinger i anvendt materialevidenskab og -teknologi. En studerende, der fuldt ud har opfyldt kursets mål, vil kunne:

• forklare fundamentale principper bag kinematisk spredningsteori
• uddrage mikrostrukturelle informationer fra røntgendiffraktion
• redegøre for positionen og intensiteten af røntgenreflekser
• anvende egnede målings- og analyserutiner til kvantitativ faseanalyse, kvantitativ teksturanalyse, kvantitativ spændingsanalyse of linjeprofilanalyse
• bestemme indre spændinger med røntgendiffraktion og klassificere denne som værre af første, anden eller tredje orden
• fortolke polfigurer og kvantificere krystallografiske teksturer
• bestemme defekttætheder ud fra røntgenlinjeprofiler
• forklare forskellene mellem laboratorie røntgenudstyr og synkrotron kilder
• diskutere og presentere resultaterne af et røntgendiffraktionseksperiment

Kurset byder på indledende forelæsninger om grundlæggende principper af røntgendiffraktion (kinematisk spredningsteori) og introducerer generelle metoder til mikrostrukturanalyse som kvantificering af krystallografisk tekstur, bestemmelse af indre spændinger og tøjninger samt linjeprofilanalysen. De ph.d. studerende vil gennem selvstudiet opnå en dybere generel viden om forskellige tekniker med fokus på udvalgte anvendelser. De ph.d. studerende vil præsentere og diskutere resultaterne af målinger med laboratorieudstyr eller fra synkrotroneksperimenter på basis af litteratur eller egen data. 17. maj, 2021