At give en praktisk introduktion til Rietveldmetoden for krystalstrukturforfining fra konventionelle eller synkrotron pulverdiffraktionsdata. En studerende, der fuldt ud har opfyldt kursets mål, vil kunne:

• Kunne redegøre for grundlæggende diffraktionsteori.
• Kunne redegøre for krystallinske stoffers opbygning i termer af enhedsceller og symmetrier.
• Kunne redegøre for pulverdiffraktionsmetoden, dens fordele og begrænsninger.
• Kunne redegøre for Rietveld-metoden, dens fordele og begrænsninger.
• Kunne redegøre for fejlkilder og hvordan man undgår /reducerer dem.
• Kunne orientere sig i den krystallografiske litteratur, databaser og internetressourcer.
• Kunne gennemføre dataindsamling, datahåndtering og Rietveld-forfining af krystalstrukturer.
• Kunne præsentere metoder og resultater i en form der accepteres i den videnskabelige litteratur.

Røntgenstråling. Generel Røntgenstråling. Generel diffraktionsteori. Pulver-diffraktion. Dataindsamlingsstrategier. Mindste kvadraters metode. Rietveldmetodik. Forfiningsstrategier. Partikelstørrelse og defekter. Kvantitativ analyse. Praktiske øvelser i prøvepræparation, dataindsamling, datahåndtering, krystalstrukturforfining og rapportering. Kompendium Kurset er åbent for deltagelse af andre end ph.d.-studerende mod et gebyr. Kurset koster 4500 kr. Tilmelding http:/​/​efteruddannelse.kurser.dtu.dk/​/​description.php?courseno=514&lang=dansk 08. maj, 2017