Forår Efter aftale.Tilmeldingsfrist 31. marts 2010
Undervisningsform:
Forelæsninger, laboratorieøvelser og opgaver
Kursets varighed:
[Kurset følger ikke DTUs normale skemastruktur]
Evalueringsform:
Hjælpemidler:
Bedømmelsesform:
Ønskelige forudsætninger:
Deltagerbegrænsning:
Minimum 5, Maksimum: 10
Overordnede kursusmål:
At give en praktisk introduktion til Rietveldmetoden for krystalstrukturforfining fra konventionelle eller synkrotron pulverdiffraktionsdata.
Læringsmål:
En studerende, der fuldt ud har opfyldt kursets mål, vil kunne:
redegøre for grundlæggende diffraktionsteori.
redegøre for krystallinske stoffers opbygning i termer af enhedsceller og symmetrier.
redegøre for pulverdiffraktionsmetoden, dens fordele og begrænsninger.
redegøre for Rietveld-metoden, dens fordele og begrænsninger.
redegøre for fejlkilder og hvordan man undgår /reducerer dem.
orientere sig i den krystallografiske litteratur, databaser og internetressourcer.
gennemføre dataindsamling, datahåndtering og Rietveld-forfining af krystalstrukturer.
præsentere metoder og resultater i en form der accepteres i den videnskabelige litteratur.
Kursusindhold:
Røntgenstråling. Generel Røntgenstråling. Generel diffraktionsteori. Pulver-diffraktion. Dataindsamlingsstrategier. Mindste kvadraters metode. Rietveldmetodik. Forfiningsstrategier. Partikelstørrelse og defekter. Kvantitativ analyse. Praktiske øvelser i prøvepræparation, dataindsamling, datahåndtering, krystalstrukturforfining og rapportering.
Litteratur:
Kompendium
Bemærkninger:
Kurset er åbent for deltagelse af andre end ph.d.-studerende mod et gebyr. Henvendelse til kursets kontaktperson eller til Undervisningssekretariatet, bygn. 206, rum 208, tlf. 45252001
