2009/2010

41690 Electron Microscopy and Analysis for Materials Research

Engelsk titel: 


Electron Microscopy and Analysis for Materials Research

Sprog:


Point (ECTS )

  5

Kursustype:   

Ph.D.- Konstruktion, Produktion, Byggeri og Transport, Matematik, Fysik og Informatik, Kemi, Bioteknologi og Kemiteknik, Elektronik, Kommunikation og Rumforskning, Life Science
Kurset udbydes under åben uddannelse


Skemaplacering:

Forår og Efterår
Aftales med gruppen af studerende
 

Undervisningsform:

Undervisningen foregår ved aktiv læring hvormed en stor del af indholdet baseres på de studerendes egne forskningsinteresser. Desuden inkluderes elementer fra nutidige forskningsartikler i internationale tidsskrifter.

Kursets varighed:

13-uger

Eksamensplacering:

Aftales med læreren,   Aftales med læreren 

Evalueringsform:

Hjælpemidler:

Bedømmelsesform:

Tidligere kursus:

42160

Faglige forudsætninger:

,

Deltagerbegrænsning:

Minimum  8, Maksimum:  24
 

Overordnede kursusmål:

Se venligst kursusmål på engelsk


Læringsmål:

En studerende, der fuldt ud har opfyldt kursets mål, vil kunne:
  • genkende hovedkomponenterne i elektronmikroskoper og tilhørende spektrometre for henholdsvis SEM og TEM
  • identificere størrelse og skala af mikrostruktur som er relevante til materialeteknologi og angive typen af mikroskopi som kan bruges til at undersøge typiske prøver
  • beskrive vekselvirkningen mellem højenergi elektroner og faststof og genkende termerne middel fri vejlængde, kollisionstværsnit, elastiske- og ikke-elastiske kollisioner, fremadrettet spredning
  • skelne mellem transmitteret, tilbagespredt og sekundært elektronsignaler som relateret til elektronenergi og prøvens atomnummer
  • fortolke variationer i billedkontrast, billedintensitet og signal-til-støj forhold som resulterer fra elektron vekselvirkning, enten mellem prøvens overflade i SEM, eller prøvens indrestruktur i TEM
  • demonstrere en forståelse af røntgen signal generering, opsamling og data analyse i praksis ved brug af kommerciel software og identificere parametre for en korrekt analyse af kompositionen af typiske prøver i materialeteknologi
  • analysere elektrondiffraktions fænomener og mønstre kvalitativ i både SEM og TEM og, ved brug af kommerciel software, relatere disse mønstre til prøvens krystallografi
  • bedømme hvilke elektronmikroskopi og tilhørende spektroskopi teknikker ville være brugbar i et udvalgt felt (typisk dit eget forskningsprojekt) og formulere en strategi for prøvetilberedning og observation og analyse i mikroskop
  • evaluere mindst een elektronmikroskopiteknik som ikke er blevet gennemgået i kurset og finde ud af, eller forudse, hvordan denne teknik kunne være brugbar i et udvalgt felt (typisk dit eget forskningsprojekt)

Kursusindhold:

Se venligst kursusindholdet på engelsk


Kursusansvarlig:

Andy Horsewell, 204, 104, (+45) 4525 2197, anho@mek.dtu.dk  

Institut:

41 Institut for Mekanisk Teknologi

Ekstern samarbejdsinstitution:

Center for Elektronnanoskopi

Tilmelding:

I CampusNet
Kurset undervises i samarbejde mellem DTU MEK, Materialeteknologi og Center for Elektronnanoscopy, DTU-Cen

Nøgleord:

Elektronmikroskopi
Sidst opdateret: 2. december, 2009