Introduktionsforelæsninger (6 timer). I øvrigt arbejdes i grupper med teori og eksperimenter.
Kursets varighed:
3-uger
Evalueringsform:
Hjælpemidler:
Bedømmelsesform:
Faglige forudsætninger:
Deltagerbegrænsning:
Minimum 10, Maksimum: 24
Overordnede kursusmål:
Deltagerne skal lære at forstå simple elektroniske kredsløb, anvende moderne elektroniske apparater og introduceres til udførelse af praktiske fysiske målinger i laboratoriet. Kurset henvender sig til bachelor-studerende på Fysik og Nanoteknologi, og udgør en vigtig forudsætning for gennemførelse af eksperimentelle projekter i fysik.
Læringsmål:
En studerende, der fuldt ud har opfyldt kursets mål, vil kunne:
Vælge hensigtsmæssigt måleudstyr ved projektarbejde.
Designe mindre operationsforstærkerkredsløb.
Kode simple måle- og kontrolopgaver i LabVIEW.
Vælge optimal kabling og afskærmning i forbindelse med måleopgaver.
Identificere korreleret og stokastisk støj i målte signaler.
Udnytte filtrering og/eller fasefølsom detektion til støjundertrykkelse.
Anvende basale elektromagnetiske modeller til at forstå kilder til forstyrrelser af måleresultater.
Genkalde sig vigtige måletekniske forhold ved mikrobølgefrekvenser.
Genkende vigtige principper i udvalgte målemetoder (fx spektroskopi, billedbehandling).
Gennemføre et kort måleteknisk projekt og dokumentere resultaterne.
Kursusindhold:
I introduktionsforløbet behandles en række emner, som indgår i flere af de efterfølgende emnedage, f. eks. elektriske komponenter og kredse, forstærkere, bølgeaspekter ved høje frekvenser, støj mv. Herefter gennemfører grupperne (á 3 studerende) 8 emnedage bestående af vekslende teori og eksperimenter. Typiske emner er: Forstærkere. Elektriske filtre. Støjundertrykkende måleteknik. Kabling, jording, afskærmning. Analoge og digitale kontrolsystemer. Spektroskopi el. mikroskopi. Mikrobølgeteknik. Billedanalyse. Til sidst gennemføres et miniprojekt. Eksempler på emner: Operationsforstærker. Støjmålinger med oscilloskop og spektrumanalysator. PC (LabView) målesystem (fx bestemmelse af kritisk temperatur af superleder). PC-styret temperaturmåling og -stabilisering. Impedansspektroskopi. Måling af mikrobølgeeffekt, refleksion, impedanstilpasning.
