Mikro og nano strukturer indgår som et centralt element i en lang såvel forsknings som industrielt orienterede projekter og produkter.
Målet med kurset er at give dig et overblik over metoder til visualisering af disse strukturer, samt at forstå den bagvedliggende fysik.
Med denne viden vil du være i stand til at vælge de rigtige metoder til en given anvendelse samt at diagnosticere og videreudvikle disse visualiseringsteknikker.
Endvidere vil du være i stand til at fortolke de informationer som teknikken frembringer. Dette kan både være formen af emnet der undersøges (topografi) og dets materialeegenskaber.
Læringsmål:
En studerende, der fuldt ud har opfyldt kursets mål, vil kunne:
Udvælge den rigtige teknik til en given anvendelse
Forklare virkemåden, fysikken bag samt begrænsningerne af et optisk mikroskop
Forklare virkemåden, fysikken bag samt begrænsningerne af et scanning electron microscope (SEM)
Forklare virkemåden, fysikken bag samt begrænsningerne af et transmission electron microscope (TEM)
Forklare virkemåden, fysikken bag samt begrænsningerne af et atomic force microscope (AFM)
Forklare virkemåden, fysikken bag samt begrænsningerne af et scanning tunneling microscope (STM)
Foretage basale beregninger og numeriske overslag på data genereret med ovenstående metoder
Beregne og vurdere metrologiske aspekter af data genereret med ovenstående metoder
Kursusindhold:
På kurset gennemgås de vigtigste metoder til visualisering af mikro og nanostrukturer som anvendes på DTU og tilknyttede virksomheder. Dette omfatter bl.a. · Optisk mikroskopi · Skanning elektron mikroskopi (SEM) · Transmissions elektron mikroskopi (TEM) · Skanning tunnel mikroskop (STM) · Atomic force mikroskop (AFM)
Litteratur:
David Brandon og Wayne D. Kaplan "Microstructural characterization of materials" (anden udgave) Wiley, Chichester, 2008, ISBN:978 0 470 02785 1.
