E4A,
F4B
Efterår: Eksamensdato lørdag den 8. december, 2007
Evalueringsform:
Hjælpemidler:
Bedømmelsesform:
Faglige forudsætninger:
Overordnede kursusmål:
Indførelse i testproblematikken for integrerede kredsløb, der sætter deltagerne i stand til at designe integrerede kredsløb af høj testmæssig kvalitet.
Læringsmål:
En studerende, der fuldt ud har opfyldt kursets mål, vil kunne:
Beskrive og forklare grundlæggende metoder og begreber inden for test og design for test af integrerede kredsløb (f.eks. stuck-at fejl, D-algoritme, indbygget selv-test)
Redegøre for, hvad det vil sige, at et kredsløb er testbart og analysere, hvorvidt et digitalt kredsløb eller dele heraf er testbart
konstruere og analysere mindre dele af et testbart digitalt kredsløb, der benytter gængse metoder for test og design for test
udvælge og optimere de test ressourcer, det er hensigtsmæssigt at benytte i en given situation
givet et digitalt kredsløb, redegøre for kredsløbets testbarhedsegenskaber (f.eks. overhead, kompleksitet) samt foreslå og sammenligne forskellige muligheder for at forbedre disse egenskaber
undersøge en faglig problemstilling [på baggrund af et oplæg] og fremlægge resultatet af undersøgelsen på en klar og koncis måde i form af en standardiseret teknisk rapport
beskrive forskellige løsningsmetoder til en udvalgt teknisk problemstilling og bedømme fordele og ulemper ved metoderne som løsninger til problemstillingen
konstruktivt kritisere en skriftlig fremstilling [over en faglig problemstilling], supplere eventuelle mangelfulde dele i rapporten, og konkludere over fremstillingens helhed
diskutere fremlagte metoder [i tekniske artikler] og relatere disse med tilsvarende resultater under klar angivelse af ligheder og forskelle
Kursusindhold:
Kurset gennemgår den grundlæggende teori for test af elektroniske kredsløb specielt med henblik på design af digitale, integrerede kredsløb med gode testegenskaber. Kurset omhandler områderne: 1) fysiske fejlmekanismer og logiske fejlmodeller, 2) testbarhedsanalyse (kontrollerbarhed og observerbarhed), 3) algoritmer til test mønster generering, 4) testevaluering (fejldækning) og fejl-sampling, 5) design for test samt test af specielle designstrukturer, 6) testbarhed på kredskort niveau, 7) testplanlægning i designfasen, 8) kommercielle testsystemer, test- og måleudstyr.
