Undervisningen foregår ved aktiv læring hvormed en stor del af indholdet baseres på de studerendes egne forskningsinteresser. Desuden inkluderes elementer fra nutidige forskningsartikler i internationale tidsskrifter.
En studerende, der fuldt ud har opfyldt kursets mål, vil kunne:
genkende hovedkomponenterne i elektronmikroskoper og tilhørende spektrometre for henholdsvis SEM og TEM
identificere størrelse og skala af mikrostruktur som er relevante til materialeteknologi og angive typen af mikroskopi som kan bruges til at undersøge typiske prøver
beskrive vekselvirkningen mellem højenergi elektroner og faststof og genkende termerne middel fri vejlængde, kollisionstværsnit, elastiske- og ikke-elastiske kollisioner, fremadrettet spredning
skelne mellem transmitteret, tilbagespredt og sekundært elektronsignaler som relateret til elektronenergi og prøvens atomnummer
fortolke variationer i billedkontrast, billedintensitet og signal-til-støj forhold som resulterer fra elektron vekselvirkning, enten mellem prøvens overflade i SEM, eller prøvens indrestruktur i TEM
demonstrere en forståelse af røntgen signal generering, opsamling og data analyse i praksis ved brug af kommerciel software og identificere parametre for en korrekt analyse af kompositionen af typiske prøver i materialeteknologi
analysere elektrondiffraktions fænomener og mønstre kvalitativ i både SEM og TEM og, ved brug af kommerciel software, relatere disse mønstre til prøvens krystallografi
bedømme hvilke elektronmikroskopi og tilhørende spektroskopi teknikker ville være brugbar i et udvalgt felt (typisk dit eget forskningsprojekt) og formulere en strategi for prøvetilberedning og observation og analyse i mikroskop
evaluere mindst een elektronmikroskopiteknik som ikke er blevet gennemgået i kurset og finde ud af, eller forudse, hvordan denne teknik kunne være brugbar i et udvalgt felt (typisk dit eget forskningsprojekt)
